JJF(津) 147-2025 冲击试样缺口投影仪校准规范 ,该文件为pdf格式 ,请用户放心下载!
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资源简介
《冲击试样缺口投影仪校准规范》(JJF(津)147-2025)的详细总结,严格依据文档结构组织内容:
一、规范基本信息
- 规范名称
《冲击试样缺口投影仪校准规范》(Calibration Specification for Projectors for Detecting the Notch of Test Sample)- 归口单位:天津市市场监督管理委员会
- 起草单位:天津市静海区计量检定所、天津市计量监督检测科学研究院等4家单位。
- 首次发布:2025年实施,属首次制定。
- 引用文件
- 基础规范:JJF 1001-2011《通用计量术语及定义》、JJF 1059.1-2012《测量不确定度评定与表示》。
- 技术依据:GB/T 229-2020《金属材料夏比摆锤冲击试验方法》。
二、仪器概述
- 功能与结构
冲击试样缺口投影仪是专用于检测夏比摆锤冲击试验试样缺口几何形状的光学仪器。工作原理:光源照射试样缺口,物镜将缺口轮廓放大50倍投影至屏幕,与标准样板比对判定合格性。- 核心组件:光源、物镜、投影屏、移动工作台(见图1)。
- 核心组件:光源、物镜、投影屏、移动工作台(见图1)。
三、计量特性(参考指标)
4.1 标准比对样板示值误差
- V型缺口夹角:标称值43°(44°)、45°、47°(46°),允差±12′。
- V型缺口圆弧半径:
- 标注值:0.225mm、0.25mm、0.275mm(对应放大后标称值11.25mm、12.50mm、13.75mm),允差±0.25mm。
- U型缺口圆弧半径:
- 标注值:0.93mm、1mm、1.07mm(对应放大后标称值46.5mm、50.0mm、53.5mm),允差±0.7mm。
- 缺口高度:标注值2mm(放大后100mm),允差±0.1mm。
- 0.01mm刻线示值误差:全长范围内允差±0.1mm。
4.2 物镜光轴与工作台面垂直度
- 要求:量块两工作棱边投影清晰且无阴影(通过量块旋转180°验证)。
4.3 仪器放大倍数误差
- 标称放大倍数50倍,允差±1%。
注:校准不判定合格性,计量特性仅作参考。
四、校准条件
5.1 环境条件
- 温度:(20±5)℃;湿度:≤80% RH。
5.2 测量标准及设备
校准项目 | 计量器具及技术要求 |
---|---|
标准比对样板示值误差 | 万能工具显微镜(长度MPE:±(1μm+1×10⁻⁵L),角度MPE:±1′) |
物镜光轴垂直度 | 5等量块 |
放大倍数误差 | 标准玻璃线纹尺(U=0.20μm+1.5×10⁻⁶L, k=3);工作玻璃刻线尺(MPE:±0.03mm) |
注:允许使用满足不确定度要求的等效设备。
五、校准方法
6.1 标准比对样板示值误差校准
- V型缺口夹角:用万能工具显微镜测量缺口两边夹角,差值绝对值为结果(图2)。
- 圆弧半径:采用弦高法(图3),公式:
R=8hl2+2h
(l:弦长;h:弓高;R:圆弧半径)
- 缺口高度:工具显微镜测量缺口顶部至底部距离差值。
- 0.01mm刻线:以5分度间隔测量刻线全长,示值误差按 δi=li−ai 计算。
6.2 物镜光轴垂直度校准
- 将(2~3)mm量块研合于(20~50)mm量块上(图4),观察投影棱边清晰度及旋转180°后一致性。
6.3 放大倍数误差校准
- 标准玻璃线纹尺投影后与工作玻璃尺比对,误差公式:
β=LΔL×100%
(ΔL:两尺差值;L:标准尺实际值)。
六、校准结果与复校间隔
- 结果表达:校准证书需包含结果及测量不确定度(详见附录A、B原始记录及证书格式)。
- 复校时间:建议不超过12个月(由使用情况决定)。
七、附录内容概要
- 附录A:校准原始记录格式(含V型夹角、圆弧半径、缺口高度等数据表)。
- 附录B:校准证书内页格式(列明各项目校准结果及不确定度)。
- 附录C~E:关键参数不确定度评定案例:
- C:V型缺口夹角测量 U=2′(k=2)。
- D:圆弧半径测量 U=0.02mm(k=2)。
- E:放大倍数误差测量 Urel=0.5%(k=2)。
八、其他要求
- 校准证书内容:需包含实验室信息、校准依据、环境条件、结果、不确定度、责任人签字等16项要素(见第9章)。
- 免责声明:结果仅对被测对象有效,禁止部分复制证书。
总结说明:本规范系统性规定了冲击试样缺口投影仪的计量特性、校准条件、操作方法和结果表达,重点覆盖标准样板参数、光学系统精度及放大倍数三大核心指标,并通过附录提供详细技术支持和不确定度分析范例。
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