T/CS 020-2024 无损检测-金属材料涡流阵列检测技术规范,

以下是《T/CS 020-2024 无损检测-金属材料涡流阵列检测技术规范》的详细内容总结：

​​1. 范围与适用性​​

• 适用于金属材料表面及近表面缺陷的涡流阵列（ECA）检测，其他导电材料可参照执行。
• 涵盖缺陷检测、尺寸定量及技术规范要求。

​​2. 规范性引用文件​​

• 引用GB/T 9445（人员资格）、GB/T 12604.6（涡流检测术语）、GB/T 20737（通用术语）等标准。

​​3. 术语与定义​​

• ​​涡流阵列检测技术（ECA）​​：通过电子驱动多线圈排布实现大面积扫查，支持C扫描显示。
• ​​相幅图​​：描述线圈阻抗变化的坐标轨迹图。
• ​​拓扑技术​​：探头内部线圈的激励/接收组合模式（如阻抗式、激励/接收分离式）。

​​4. 检测要求​​

• 检测人员需通过GB/T 9445认证，最低为ECT II级，并完成20小时ECA专项培训，内容涵盖设备操作、数据分析、编码扫查等。

• ​​仪器​​：需支持多通道管理，频率范围1 kHz–4 MHz，具备通道标准化、C扫描显示功能。
• ​​探头​​：
  • 覆盖范围需超出检测区域3mm，灵敏度均匀性要求缺陷响应振幅≥最大值的60%。
  • 拓扑技术分为：
    • ​​阻抗式​​（绝对式/差动式）：适用于小提离场景。
    • ​​激励/接收分离式​​（长距单激励/短距双激励）：针对不同方向缺陷优化。

• ​​参考试块​​：需与被检材料一致，含平底孔、多方向表面槽（如45°斜槽、长横槽），表面粗糙度匹配。

​​5. 检测流程​​

• 仪器每年校准一次，校验使用参考试块，每2小时或检测结束时需验证系统稳定性。

• ​​频率选择​​：最大化提离信号与缺陷的相位差。
• ​​相位调节​​：提离信号调至水平方向（0°），缺陷信号相位差需显著。
• ​​通道标准化​​：通过长横槽校准不同通道类型（纵向/横向）。

• ​​扫查速度​​：需保证信噪比（SNR）>3，采样密度≥2个/mm。
• ​​重叠扫查​​：扫查方向重叠1个探头宽度，步进方向重叠6mm。

​​6. 结果评定与验收​​

• ​​缺陷判别​​：相位响应与参考试块匹配的显示视为缺陷，必要时用MT/PT验证。
• ​​尺寸定量​​：
  • ​​长度​​：编码器测量（分辨率≤0.38mm/样本）。
  • ​​深度​​：通过模拟试块对比信号幅值评估。
• ​​验收准则​​：依据工艺规程或合同规定。

​​7. 文件与记录​​

• ​​检测报告​​：需包含设备信息、参数设置、扫查计划、结果图示等。
• ​​记录保存​​：按规范要求存档。

​​附录A（演示试样）​​

• 试样设计含3个测试区，覆盖多类型人工缺陷（线槽、平底孔、通孔），用于验证检测能力：
  • ​​第1区​​：密集缺陷组（如0.5mm间距线槽）。
  • ​​第2区​​：不同深度线槽（0.5–3.5mm）。
  • ​​第3区​​：不同深度平底孔（0.5–3.5mm）。

​​核心要点总结​​

1. ​​技术先进性​​：ECA通过多线圈拓扑技术实现高效扫查，支持复杂缺陷检测。
2. ​​严格性​​：从人员资质到设备校准均需标准化，确保结果可靠性。
3. ​​灵活性​​：针对不同材料、几何形状（如曲面）提供适配方案