SJ∕T 11820-2022 半导体分立器件直流参数测试设备技术要求和测量方法,该文件为pdf格式,请用户放心下载。
尊敬的用户你们好,你们的支持是我们前进的动力,网站收集的文件并免费分享都是不容易,如果你觉得本站不错的话,可以收藏并分享给你周围的朋友。
如果你觉得网站不错的话,找不到本网站的话,可以百度、360搜搜,搜狗搜索关键词“文档天下”,就可以找到本网站。也可以保存到浏览器书签里。
收费文件即表明收集不易,也是你们支持,信任本网站的理由!真心非常感谢大家一直以来的理解和支持!
资源简介
本标准规定了半导体分立器件直流参数测试设备(以下简称“分立器件测试设备”)的术语和定义、技术要求、测量方法。
本标准适用于直流电压输出和直流电压测量范围不超过0.01 V~~5 000 V,直流电流输出和直流电流测量范围不超过1nA~10A,脉冲陶泊输出和脉冲电流刺童围不超过10A~1200A的分立器件测试设备。
本标准适用于直流电压输出和直流电压测量范围不超过0.01 V~~5 000 V,直流电流输出和直流电流测量范围不超过1nA~10A,脉冲陶泊输出和脉冲电流刺童围不超过10A~1200A的分立器件测试设备。
评论